一起來了解激光導熱儀的測試誤差

激光導熱儀測試導熱系數要求的樣品尺寸較小，測量范圍寬廣，除絕熱材料導熱系數測試以外，可測試絕大部分材料，特別適合于中高導熱系數材料的測量。除常規的固體片狀材料測試外，通過使用合適的夾具或樣品容器并選用合適的熱學計算模型，還可測量諸如液體、粉末、纖維、薄膜、熔融金屬、基體上的涂層、多層復合材料和各向異性材料等特殊樣品的熱傳導性能。但是激光導熱儀測試導熱系數也存在標準偏差。1.標樣的選擇標樣與樣品的熱物性是否相近，會對檢測結果造成很大影響。應選擇與樣品熱物性相近且比熱值已知的參比...

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熱膨脹儀的整機操作您會了么？

熱膨脹儀是在一定的溫度程序、負載力接近于零的情況下，測量樣品的尺寸變化隨溫度或時間的函數關系。可測量固體、熔融金屬、粉末、涂料等各類樣品，廣泛應用于無機陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建筑材料、涂層材料、耐火材料、復合材料等領域。有關熱膨脹儀的整機操作，有以下3點要談：1.裝樣：松開鎖定扣，拉出裝樣機構，取下裝樣管端部的捎樣插片，將試樣從端部放入裝樣管，再將插片重新放入插槽內，100mm的試樣插片放端部插槽，50mm的試樣放內側插槽。旋轉位移計調整旋鈕，使頂桿頂住試樣端面中心部位...

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同步測得薄膜熱物性和熱電性能參數？林賽斯的TFA為您實現！

樣品幾何尺寸、物質組分、熱分布不均等等的影響導致的一些結果誤差，是否讓您在測量薄膜的熱分析參數時頭疼不已？在此林賽斯的薄膜綜合物性分析儀（TFA）給您提供了的解決方案。導熱系數、電阻率、電導率、塞貝克效應，薄膜的霍爾效應等一次測得，不受其他因素影響，結果可靠。TFA采用芯片設計，樣品與傳感器緊密接觸，構成一個縮小的熱帶法導熱測試模型；還可配置鎖相放大器等控制設備，以使用3ω方法，對樣品的in-plane和Cross-plane導熱進行測量。同時TFA可以測量不同材質的樣品，金...

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塞貝克系數測定儀的主要構成分析

塞貝克系數測定儀可用于測量某些材料的塞貝克系數（熱電系數）；塞貝克系數測定儀是根據地質、礦業、物探、半導體科研院所的需求而設計的新型自動化數字化熱電系數測量儀，用于測量具有類似半導體特性的各種礦物，如黃鐵礦等及一般半導體材料的熱電系數。在某些礦物和半導體材料的研究中測取熱電系數具有重要的用途和意義。塞貝克系數測定儀適合于礦業、地質、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。適合于測量直徑在0.1~1.0mm之間的微小晶體的熱電系數和導型。塞貝克系數測定儀主要由以下幾部分構成：...

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不同操作條件下氧化鋁燒結對致密化的影響

Nearlypure-aluminasamplesproducedbyuniaxialpressingwereflashsinteredunderelectricalfieldsrangingfrom500V/cmto1500V/cminexperimentsatconstantheatingrate.Sinteringtemperaturesig-nificantlydecreasedwiththeappliedE-fieldevendownto≈900?Cat1500V/...

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